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shashikumar.22
Guest
Salut, je vais les schémas de configuration de quelque 45 nm. Quelqu'un peut-il m'aider dans les questions générales liées à elle. merci!!
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45 défis mise nm - aidez-moi dans les questions d'ordre général
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varma_cs012
Guest
Selon mes connaissances, aux technologies de Going bas sont les suivants quelques-unes des questions que nous critique savoir .... 1. WPE 2. LD 3. Densité. 4. Lot de DFM et rendement des règles connexes. 5. Plus conservatrice règles OPC. Ce sont jusqu'à 65 nm. Mais venir à 45nm particulier, dans certains des fonderies, j'ai entendu il ya des problèmes avec l'utilisation poly factice et les différents types d'espacements pour les différents types de métaux d'alimentation ... etc .. Mais je ne sais pas exactement quelles sont les questions critiques ...!!!
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deepak242003
Guest
Ajoutez à cela PMOS NBTIin, HCI (injection de porteurs chauds) dans NMOS efficace, taches litho chaud ... routng doit être plus litho friendlythan 90nm ou précédente ..... En plus de PBTI ... à 45 de fuite est aussi une résistance plus répandu et le chemin (parasites) est plus critique en raison de l'échelle
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shashikumar.22
Guest
: D merci Varma et Deepak. Quelqu'un peut-il s'il vous plaît de me donner la mesure de prévention pour cette PMOS NBTIin, HCI (injection de porteurs chauds) dans NMOS efficace, je veux dire aussi loin que la disposition est à craindre
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varma_cs012
Guest
Deepak peut vous donner plus d'info sur ces effets que vous avez mentionnés. Parce que je ne parfaitement conscients de ces .... aussi essayer de parler des techniques de prévention aussi ...!!!
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shashikumar.22
Guest
Voici quelques informations pour NBTI.
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shashikumar.22
Guest
Negative instabilité de la température de biais (NBTI) est un problème très réel pour les dispositifs CMOS UDSM en raison de son effet délétère sur la tension de seuil et le courant d'entraînement. Fait intéressant, lorsque le stress de tension constante est périodiquement interrompu (AC stress), la dégradation récupère, ce qui rend le standard de test de stress DC trop pessimiste une estimation de la durée de vie. Grâce à une meilleure modélisation du comportement périphérique réel et une meilleure compréhension de la menace NBTI avec mise à l'échelle dispositif de poursuite, les ingénieurs peuvent minimiser l'impact de NBTI sur les futurs appareils.