S
stuck_adc
Guest
M. MAHONEY DSP-Based Testing of Analog and mixed-signal circuits IEEE Computer Society Press, 1990.
B. Ayari, N. Ben Hamida et B. Kaminska, génération automatique de test pour Vector Mixed-Signal Circuits, La Conférence européenne sur la Design Automation, PARIS, Marsh 1995, pp.458-463.
MV Bossche, Schoukens, et J. Rennboog dynamique d'essai et de diagnostic des convertisseurs A / D IEEE Transactions on Circuits and Systems, août 1986, pp.775-785.
A. et M. Soma Charoenrook Une faute technique de diagnostic pour Flash ADC s, International Test Conference 1993, pp.
MF Wagdy Diagnostic ADC onlinearity au niveau Bit IEEE iransactions sur l'instrumentation et mesures, Décembre 1989, pp.1139-1141.
J. BLAIR Histogramme de mesure de l'ADC nonlinearities l'aide de Sine
Waves IEEE Transactions on Instrumentation and Measurements, Juin
1994, pp.373-383.
MF Wagdy ET AWAD SS Déterminer ADC nombre effectif
Bits de Via Histogramme Testing IEEE Transactions on Instrumentation
et mesures,
en août 1991, pp.770-772.
B. Ayari, N. Ben Hamida et B. Kaminska, génération automatique de test pour Vector Mixed-Signal Circuits, La Conférence européenne sur la Design Automation, PARIS, Marsh 1995, pp.458-463.
MV Bossche, Schoukens, et J. Rennboog dynamique d'essai et de diagnostic des convertisseurs A / D IEEE Transactions on Circuits and Systems, août 1986, pp.775-785.
A. et M. Soma Charoenrook Une faute technique de diagnostic pour Flash ADC s, International Test Conference 1993, pp.
MF Wagdy Diagnostic ADC onlinearity au niveau Bit IEEE iransactions sur l'instrumentation et mesures, Décembre 1989, pp.1139-1141.
J. BLAIR Histogramme de mesure de l'ADC nonlinearities l'aide de Sine
Waves IEEE Transactions on Instrumentation and Measurements, Juin
1994, pp.373-383.
MF Wagdy ET AWAD SS Déterminer ADC nombre effectif
Bits de Via Histogramme Testing IEEE Transactions on Instrumentation
et mesures,
en août 1991, pp.770-772.