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sam_2999
Guest
Je suis tombé sur quelques papiers qui se réfère à la plaque de champ terme intensifié où l'oxyde de grille est plus épais près du drain d'un LDMOS en quelques étapes simples ou deux (c'est à dire trois niveaux de la porte-oxyde d'épaisseur) pour augmenter la tension de claquage. Comment est-ce différent de LOCOS (croissance d'oxyde de champ)? Yat-il un journal ou un livre sur la fabrication qui fait référence à cela? Merci, Sam