C
cnlionking
Guest
Salut tout le monde,
ma première année je le DFT, que je sache, le plus de modèles que nous produisons dans ATPG sont des modèles LOC, afinde pour améliorer la couverture de test nous avons besoin de générer des modèles LOS si c'est le moment SE est critcal, ma question est, pourquoi modèle LOS pouvez obtenir une couverture plus élevée que modèle LOC?Quel genre de défaut ne peut pas être couverts par LOC mais couverts par LOS?
d'attente aux fins de commentaires, Merci beaucoup
<img src="http://www.edaboard.com/images/smiles/icon_smile.gif" alt="Sourire" border="0" />
ma première année je le DFT, que je sache, le plus de modèles que nous produisons dans ATPG sont des modèles LOC, afinde pour améliorer la couverture de test nous avons besoin de générer des modèles LOS si c'est le moment SE est critcal, ma question est, pourquoi modèle LOS pouvez obtenir une couverture plus élevée que modèle LOC?Quel genre de défaut ne peut pas être couverts par LOC mais couverts par LOS?
d'attente aux fins de commentaires, Merci beaucoup
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