Reliability Check

[Nugget]

Quelqu'un pourrait me fournir un support matériel ou document de travail sur la fiabilité CMOS question comme NCS (non mener stress) HCS (chaud transporteur stress)?Je vais pas avoir une profonde compréhension, mais il est préférable de me montrer quelques photos.
Merci

 

[news]

<a href="http://www.komputerswiat.pl/nowosci/gry/2010/32/blizzard-swiruje-bilety-na-blizzcon-2010-rozeszly-sie-w-sekunde.aspx"> <img align="left" src="http://www.komputerswiat.pl/media/2010/222/1332307/BlizzCon2010-ZAJ.jpg" /></a> Fani nie będą zadowoleni, choć na osłodę trzeba dodać, że będzie także transmisja LIVE. Oczywiście płatna.<img width='1' height='1' src='http://rss.feedsportal.com/c/32559/f/491281/s/cad720d/mf.gif' border='0'/><br/><br/><a href="http://da.feedsportal.com/r/78867392424/u/0/f/491281/c/32559/s/212693517/a2.htm"><img src="http://da.feedsportal.com/r/78867392424/u/0/f/491281/c/32559/s/212693517/a2.img" border="0"/></a>

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[DoctorProf]

La plupart des grands fournisseurs de semi-conducteurs ont des documents sur leurs sites Web décrivant les mécanismes wearout.Les principaux mécanismes en CMOS wearout sont:

Electromigraion - couches métalliques miction par courant
Stress migration - couches métalliques en raison de la miction mécaniques
Hot Carrier - NMOS, NPN la dégradation causée par les transporteurs de haute énergie
NbTi - (Negative Bias Temperature Instability) dispositifs PMOS
TDDB - Time Dependent Dielectric Breakdown (gate oxyde, oxyde capactior)

J'ai fait une recherche pour Goggle "à semi-échec des mécanismes» et a obtenu environ 106K hits.Regardant à travers ceux-ci, je vois plusieurs des principaux fabricants:

http://www.mitsubishichips.com/reliability/
http://www.sony.net/Products/SC-HP/tec/catalog/qr.html

Je vous suggère de chercher sur le web et voir ce qui est disponible gratuitement et ensuite vous pouvez également effectuer une recherche sur Amazon ou BarnsandNoble pour les livres qui sont disponibles sur Semiconductor Failure Mechanisms.

Dr.Prof

 

[btoner]

Un point de départ mai le JEDEC JESD28-A document.Il énumère les méthodes d'essai pour les essais à chaud transporteur,
le paramètre de dégradation et de la durée de vie extrapolation.Pour les dispositifs CMOS normal
c'est un bon point de départ.Je ne suis pas sûr que ce document couvre les deux NMOS / PMOS devices.Il existe de légères différences dans la méthodologie.En outre, les dispositifs à haute tension mai ne pas se comporter comme le montre parfaitement que dans la norme.

Brendan