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doremifaso
Guest
Salut! Je suis en train de faire un projet sur le test défaut de retard sur les puces 74series. La pièce jointe est mon Quartus II du projet de conception pour le test de défaut de retard sur 7400 (deux entrées Nand portes) comme exemple. Depuis les retards puces sont en nanosecondes, j'utilise pll dans quartus d'intensifier la fréquence de 50Mhz à 500Mhz et j'ai branché le 74161 (compteur BCD). J'utilise Altera DE2 conseil pour mon test de défaut de retard sur la puce HD74LS00P. De la feuille de données, il dit que cette puce a au moins 9 à 15 ns commutation caractéristique. Mais lorsque j'utilise ma conception Quartus sur le matériel, mon compteur est 74161 ne fonctionne pas à tous. Puis-je savoir pourquoi et comment le résoudre? Est-ce que les entrées à haute fréquence permet de tester le matériel comme les 74 morceaux d'IC série? Merci!